Полупроводники

Система контроля, которая может с высокой чувствительностью обнаруживать частицы на поверхности гладкой пластины. Эта система используется в различных ситуациях для управления технологическими процессами.

Система оптического контроля с высокой скоростью и точностью, которая может находить схемы проводки, трещины, частицы и т.д.

Система контроля, которая может с высокой точностью и скоростью измерять высоту, диаметр и компланарность выпуклостей, сформированных на контактных площадках таких как полупроводниковые пластины, BGA и CSP. Минимальный...

Эта система осуществляет неразрушающее высокоскоростное измерение TSV, что необходимо для 2,5D и 3D слоистых структур, и глубины канавки силовых полупроводников.

Для получения дополнительной информации, пожалуйста, свяжитесь с нашей службой технического обслуживания.

Эта система имеет возможность проверять возможности 2D и 3D на одной и той же платформе.